Test system for wide bandgap semiconductors: Page 3 of 3

October 12, 2020 //By Nick Flaherty
The Keithley S530 Series Parametric Test System with KTE 7 software enables semiconductor fabs to add parametric test capacity for SiC and GaN devices
The Keithley S530 Series Parametric Test System with KTE 7 software enables semiconductor fabs to add parametric test capacity for SiC and GaN devices

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